電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參照標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.101-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn):傾斜和搖擺
GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn):溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合
GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ta:潤(rùn)濕稱(chēng)量法可焊性
GB/T 2423.33-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)
GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)
GB/T 2423.38-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則
GB/T 2423.39-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ee:彈跳
GB/T 2423.43-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)、沖擊和類(lèi)似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝
GB/T 2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)T:錫焊
GB/T 2423.57-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2-81部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ei:沖擊沖擊響應(yīng)譜合成
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fi:振動(dòng)混合模式
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 4796-2008   電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類(lèi)第1部分:環(huán)境參數(shù)及其嚴(yán)酷程度
GB/T 4798.10-2006 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件導(dǎo)言
GB/T 4798.2-2008 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第2部分:運(yùn)輸
GB/T 4798.3-2007 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第3部分:有氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用
GB/T 4798.4-2007 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第4部分:無(wú)氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用
GB/T 4798.5-2007 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第5部分:地面車(chē)輛使用
GB/T 4798.7-2007 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第7部分:攜帶和非固定使用
GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
GB/T 5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
GB/T 5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
GB/T 5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 10592-2008  高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 7141 -2008  塑料熱老化試驗(yàn)方法